05.10.2009, 05:33 PM
Wir haben hier irgendwo einen Thread über Tastköpfe, aber ich versuchs mal so:
In der Stellung "x10" werden Deine Eingangsspannungen durch 10 geteilt. Dazu wird dem Eingangswiderstand Deines Scopes von 1 Meg ein 10 Meg vorgeschaltet. Der 10 Meg-Widerstand befindet sich im Tastkopf. Statt mit 1 Meg belastest Du Dein Meßojekt nur noch mit 10 Meg, es fließt also ein 10-fach geringerer Strom.
Das allein reicht aber noch nicht. Denn wenn man nur den 10 Meg-Widerstand hätte, so würde er mit der Eingangskapazität Deines Scopes (z.B. 22 pF) einen Tiefpass bilden. Man muss also auch noch einen 1:10 Spannungsteiler für Wechselstrom bilden. Dazu wird ein 2.2pF Kondensator über den 10 Meg-Widerstand geschaltet. Dieser winzige Kondensator wird als Trimmer ausgeführt, damit er genau an die Fertigungstoleranzen des Scopes angepasst werden kann. Diesen Abgleich nennt man "Kompensation".
Es ergeben sich folgende Messobjektbelastungen:
"x1": 1 Meg/22pF
"x10": 10 Meg/2.2pF
"x10" ist also besser fürs Messobjekt und taugt auch zur Darstellung höherer Frequenzen, wenn das Messobjekt hochohmig ist.
In der Stellung "x10" werden Deine Eingangsspannungen durch 10 geteilt. Dazu wird dem Eingangswiderstand Deines Scopes von 1 Meg ein 10 Meg vorgeschaltet. Der 10 Meg-Widerstand befindet sich im Tastkopf. Statt mit 1 Meg belastest Du Dein Meßojekt nur noch mit 10 Meg, es fließt also ein 10-fach geringerer Strom.
Das allein reicht aber noch nicht. Denn wenn man nur den 10 Meg-Widerstand hätte, so würde er mit der Eingangskapazität Deines Scopes (z.B. 22 pF) einen Tiefpass bilden. Man muss also auch noch einen 1:10 Spannungsteiler für Wechselstrom bilden. Dazu wird ein 2.2pF Kondensator über den 10 Meg-Widerstand geschaltet. Dieser winzige Kondensator wird als Trimmer ausgeführt, damit er genau an die Fertigungstoleranzen des Scopes angepasst werden kann. Diesen Abgleich nennt man "Kompensation".
Es ergeben sich folgende Messobjektbelastungen:
"x1": 1 Meg/22pF
"x10": 10 Meg/2.2pF
"x10" ist also besser fürs Messobjekt und taugt auch zur Darstellung höherer Frequenzen, wenn das Messobjekt hochohmig ist.