[Rumgucker]

Ich ziehe genau das Gegenteil vor. Bauteile inkl. aller Parasiten sollten möglichst unabhängig von der konkreten Schaltung erfasst werden. Es darf ja nicht sein, dass beispielsweise die Daten eines MOSFET nur in einer einzigen Schaltung gelten.

Bei den allermeisten Bauteilen gelingt das ja auch schon.

Wenn es bei den Spulen und Trafos noch nicht zufriedenstellend gelingt, so haben wir unvollständige Modelle.

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Wir hier im Forum beherrschen mittlerweile die Messung von Sättigungen, Streukapazitäten, Streuinduktivitäten und natürlich der eigentlichen Induktivität und Kupferwiderstände.

Ich geb zu, dass man damit besonders frickelige Einsatzgebiete (hohe Ströme, hohe Temperaturen, hohe Frequenzen) noch nicht vollständig beschreiben kann.

In jedem Fall muss es einen Praxistest mit Feinanpassungen geben. Klar. Aber der muss sowieso sein.

Damit es aber auch bei "Feinanpassungen" bleibt, braucht man bei der Konstruktion anständig vermessene Bauteile.