07.01.2010, 08:36 PM
Zitat:Original geschrieben von Rumgucker
Ums 3-fache, Darius und nicht um 10% oder so.
In deiner Vergleichsmessung änderst du zwei Parameter ganz gravierend:
Temperatur & und Uce
Es hilft alles nix.
Die Testanordnung muss die Erwärmung des Chips gering halten.
Nur dann lässt sich von der Kühlkörpertemperatur direkt auf die Chiptemperatur schließen. Sobald nennenswerte Verlustleistungen
auftreten, lässt sich die Chiptemperatur nur noch rechnerisch von der KK-Temperatur ausgehend via Verlustleistung und thermischen Widerständen abschätzen... Viel Huddel mit großer Ungenauigkeit.
Bei Pulsen mit kleinem Tastverhältnis und geringen Verlusten
kann man entweder vereinfachend die Chiptemperatur als ähnlich der Kühlkörpertemperatur ansehen.
Oder wer es genauer mag, kann natürlich genaue via Verlustleistung und dynamischen thermischen Widerständen (sind aber of nicht im DB drin....)
ein paar Kelvin Korrektur rechnen.
Nun kann man via KK-Temperatur die Chiptemperatur halbwegs vorgeben und Uce variieren.
So lassen sich Temperatureinfluss und Spannungseinfluss weitgehend getrennt messen.
Wer mag, darf das gesamte Kennlinienfeld mit unterschiedlichen Temperaturen und unterschiedlichen Ib vermessen.
